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xrdanalysis 是新一代的软件包，用于分析 anton paar 的 xrdynamic 500 的粉末衍射数据。它可以帮助您轻松地对环境和非环境条件下收集的数据进行轮廓拟合、物相鉴定或量化以及微观结构分析。xrdanalysis 具有更佳的分析工作流程，以帮助刚接触 xrd 的用户完成各种任务，同时保留更高级用户所要求的灵活性。

关键功能

通过在单个工作流程中集成多个分析任务来实现分析自动化

利用灵活的工作流程理念以您希望的方式进行粉末衍射数据分析，只需单击一下即可综合并执行多个任务。从寻峰、轮廓拟合、物相鉴定，一直到 rietveld 分析，所有步骤都可以合并到同一个工作流程中，使得分析任务自动化。对于多个数据集的评估，也可以很容易地进行批量处理，如果需要，甚至可以对不同的数据集采用不同的工作流程。这使得 xrdanalysis 更易被经验不足的用户学习和使用，同时仍能为专家用户提供他们所需的灵活性。 

先进的物相鉴定，不会错过任何相位

在 xrdanalysis 中使用的搜索/匹配算法允许通过搜索参考数据库（如 icdd 的 pdf 数据库）进行物相鉴定。一旦添加了物相之后，即会执行高级残余搜索，确保即使是更微小的物相组分也能被识别出来。此外，当手动加载物相时（例如从 cif），残余搜索也能发挥作用，因此在物相鉴定过程中，您无需只依靠参考数据库。  

即使对于少量的物相也能进行准确的物相定量

xrdanalysis 中的 rietveld 精修选项允许您执行定量的物相和结构分析，同时考虑到所有仪器和样品的微观结构效应。rietveld 分析可以在有原子位置的任何相上进行。物相既可以直接从参考数据库匹配结果中带入，也可以从 cifs 中手动添加；两种来源的物相组合也是可能的。精细的物相参数不仅能提供物相分数，还能提供微观结构参数，如微晶尺寸和应变。  

可定制报告

xrdanalysis 可以根据您选择的格式快速轻松地导出每个分析步骤的数据和图形。包括与 microsoft office 软件包的优化接口，报告和数据导出功能可优化数据和图形的准备，以供发布或用于 xrdanalysis 平台之外的进一步分析。

技术规格

系统要求	intel™ i5，2.67 ghz 或更高 16 gb ram（取决于操作系统） 1.5 gb 可用磁盘空间
支持的操作系统	microsoft windows™ 8, 10; 64-bit

安东帕认证服务

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自动化多用途粉末 x 射线衍射仪：
xrdynamic 500